JEOL Ltd. (TOKIO: 6951) (Präsident und COO: Izumi Oi) gibt die Entwicklung und Veröffentlichung eines neuen Rasterelektronenmikroskops (REM) der Serie JSM-IT510 im November 2021 bekannt.
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JSM-IT510 (LA) (Photo: Business Wire)
Hintergrund der Produktentwicklung
Rasterelektronenmikroskope werden in einem breiten Spektrum von Bereichen eingesetzt, wie zum Beispiel Nanotechnologie, Metalle, Halbleiter, Keramik, Medizin und Biologie. Darüber hinaus erstrecken sich REM-Anwendungen nicht nur auf Grundlagenforschung, sondern auch auf die Qualitätskontrolle an Produktionsstandorten. Dadurch nimmt die Nachfrage nach schnellerer und einfacherer Datenerfassung sowohl bei REM-Bildern als auch bei Analyseergebnissen wie EDS-Spektren (energiedispersive Röntgenspektroskopie) zu.
Um diesem Bedarf gerecht zu werden und den Durchsatz zu steigern, haben wir die Serie JSM-IT510 entwickelt, mit der die Funktionsfähigkeit unserer beliebten InTouchScope™-Baureihe erweitert wird. Mit der neuen Simple-SEM-Funktion können Sie nun Ihre wiederholten, alltäglichen Arbeitsabläufe auf dem Gerät „zurücklassen“.
Hauptfunktionsmerkmale:
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Neue „Simple SEM“-Funktion
Die Simple-SEM-Funktion erlaubt es dem Benutzer, die Erfassungsbedingungen und das Bildfeld für das REM-Bild einfach auszuwählen, worauf das REM-Bild automatisch aufgenommen wird. Routinearbeiten können so effizienter gestaltet werden. -
Neuer „Low-vacuum Hybrid Secondary Electron Detector (LHSED)“
Dieser neue Detektor erfasst sowohl Elektronen- als auch Photonensignale und ergibt so ein Bild mit hohem SRV und erweiterten topografischen Informationen auch unter Grobvakuumbedingungen. -
Integration von Rasterelektronenmikroskop (REM) mit EDS-System (energiedispersive Röntgenspektroskopie).
Die Integration von REM und EDS wurde weiterentwickelt und die Live-Map-Funktion ermöglicht die Live-Anzeige des elementaren Bildfeldes unter Beobachtung. -
Neue „Live 3D“-Funktion
3D-Bilder können an Ort und Stelle erstellt werden, während die REM-Beobachtung für Informationen bezüglich Ungleichmäßigkeiten und Tiefe durchgeführt wird. -
„Live Analysis“-Funktion
Das eingebettete EDS-System zeigt ein Echtzeit-EDS-Spektrum während der Bildbeobachtung für eine schnelle und effiziente Elementaranalyse. -
Neue „Stage Navigation System LS“-Funktion
Mit der neuen „Stage Navigation System LS“-Funktion kann ein optisches Bild eines viermal größeren Bereichs aufgenommen werden als mit herkömmlichen Modellen (200 mm × 200 mm). Diese Funktion ermöglicht es dem Benutzer, ein optisches Bild der beobachteten Probe aufzunehmen und das gewünschte Beobachtungsfeld anzusteuern, indem ganz einfach das optische Bild angeklickt wird. -
Zeromag
Mit unserer Zeromag-Funktion ist die Probennavigation noch einfacher als je zuvor. Sie können für die Bildgebung bestimmte Bereiche festlegen oder Analysepositionen über mehrere Felder hinweg mithilfe eines optischen Bildes oder einer Haltergrafik bestimmen. -
Anzeige der charakteristischen Röntgentiefe
Dadurch wird ein schnelleres Verständnis der Analysetiefe (Referenz) für die Probe unterstützt. -
SMILE VIEW™ Lab ermöglicht die integrierte Verwaltung von Bild- und Analysedaten.
Dies erleichtert die Berichterstellung für alle Daten von den gesammelten REM-Bildern bis hin zu den Ergebnissen der Elementaranalyse in kürzester Zeit.
Verkaufsziel
200 Einheiten/Jahr
URL für das Produkt: https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT510.html
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japan
Izumi Oi, Präsident und COO
(Börsenkürzel: 6951, Tokyo Stock Exchange First Section)
www.jeol.com
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